测量探针是一种虚拟仪器，只需要将它拖放到被测支路，就可以实时测量各种电信息。测量探针的测量结果根据电路理论计算得出，不对电路产生任何影响。

　　随着测量结构的越来越小型化以及表面形貌越来越精密，不仅要求要求接触测量而且测量力也要求越来越小。当接触面积一定的情况下，然而探针与表面相互作用力在很大程度上衡量测量是否破坏表面的参数。同时，作用力的不同也能为我们提供表面属性的变化。

　　原子力型探针为我们提供了一种纳米级测量的手段。其动态测量模式可以有三个参数可以进行测量：幅值、相位和频率。由于探针和测量表面不是线性作用，所以动态模式测量下的参数变化也是非线性的。这给测量带来比较大的困难。

　　一般测量只是将探针和测量表面的作用作为一个状态指示器。给动态测量模式的三个变量中的一个的设定值，一旦状态改变反馈值不等于设定值，有控制系统驱动其他部件运动使状态恢复，记录下的部件运动即为测量值。

　　当需要提取探针作用力的随接近距离连续变化的形式就必须进行对动态测量参数进行连续检测，而不仅仅是工作在某个状态。