微波暗室近场天线测试

2017-01-12 09:33:00      点击:

  所谓近场天线测试的近场是指从测试探头到被测天线口平面的距离约为3λ、5λ。符合这样条件的天线测试被称为近场测试。近场天线测试系统主要由以下几部分组成:

 

  a.被测天线定位子系统,通常由一个单轴或多轴转台,控制驱动器及电缆组件组成。

 

  b.多轴扫描架子系统,包括控制驱动器及电缆组件。

 

  c.射频子系统,包括发射源,接收机及射频电缆组件。

 

  d..系统主控器及一个负责给扫描架的转台子系统发定位指令,采集测试数据,近远场变换计算和分析测试结果的系统软件。每个天线测试应用都有自己的独立特点,而我们提供的近场天线测试系统也有很多不同规格的选择。具体的系统需要根据用户的具体情况进行配置。